品牌 |
亚科电子 |
型号 |
美国布鲁克Bruker原子力显微镜-- Dimension Icon |
类型 |
原子力显微镜 |
仪器最大放大倍数 |
1000000 |
用途 |
其他 |
装箱数 |
2 |
加工定制 |
是 |
重量 |
100kg |
美国布鲁克Bruker原子力显微镜-- Dimension Icon
外延片表面粗糙度测试系统
Bruker公司的AFM具有多项专利技术,以其的性能广泛应用于科研和工业界各领域
Dimension Icon 系列作为布鲁克公司(Bruker AXS)原子力显微镜的旗舰产品,凝聚了多项行业领先的专利技术,是二十多年技术创新、客户反馈和行业应用的结晶。
应用:
应用于科研和工业界各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,MEMS制造,金属/合金/金属蒸镀的性质研究,液晶材料性能表征,分子器件,生物传感器,分子自组装结构,光盘存储,薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。
原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式:接触模式(contact mode) ,非接触模式( non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode)。
外延片表面粗糙度测试系统
北京朝阳区酒仙桥路14号兆维大厦6层616室
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